一 : 科技论文中X射线衍射谱图的规范标注与编辑加工

摘要：科技论文来稿中经常出现X射线衍射（XRD）谱图表达混乱的现象，依据国家相关标准和规范，结合XRD谱图坐标量的物理意义，XRD谱图坐标标目与标值的正确、规范的标注应为：XRD谱图中纵坐标量名称为衍射强度，标目可表示为I/s-1；横坐标的量名称为衍射角，标目为2θ/（°）。

关键词：科技期刊；科技论文；X射线衍射谱图；衍射强度；衍射角；标注；标目；量符号
中图分类号：G232 文献标识码：A 文章编号：1673-1573（2015）01-0019-04
X射线衍射（X-ray diffraction，XRD）分析常用于对晶体的物相分析、晶体结构与点阵常数的精确测定、宏观残余应力和微观应力的测定、晶粒尺寸的测定以及多晶织构测量和单晶定向等。由于具有采样少、对样品的非破坏性、对结构和缺陷的灵敏性、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点，已广泛应用于物理学、材料学、地质学、矿学等领域[1]。X射线衍射仪配有自动化和智能化的衍射图处理分析软件的计算机系统，可直接输出XRD谱图，但因各仪器所采用的软件不尽相同，因此其XRD谱图（衍射强度与入射角的关系曲线）的坐标标注的量符号和单位均是不正确或不规范的，而论文作者通常只关注谱图中的数值，忽略其坐标的标目与标值的规范性，而编辑或由于没有专业知识或疏忽，谱图分析中常出现谱图坐标标注不规范的现象。笔者查阅了中国电子科技集团公司第十三研究所图书馆馆藏的近两年国内外出版的几十种学术期刊，并从中国知网上下载了涉及XRD谱图的文章近百篇，对XRD谱图中存在的问题进行了归纳，并用文献中出现的几类错误XRD谱图实例进行了阐述，以期引起编辑同仁的重视，主动扩宽专业知识的学习和技术交流，提高科技期刊编辑出版质量。
一、XRD谱图标目中的量符号和单位
X射线衍射（XRD）谱图的横坐标标目的量符号为2θ，单位为（°），纵坐标衍射强度的量符号为I，是衡量晶体对X射线衍射强弱的物理量，其用脉冲计数率表示X射线衍射强度，单位为每秒脉冲数，通常情况下，检测器在单位时间接收的光子数即为检测器单位时间输出的平均脉冲数，若检测器的量子效率为100%，且仪器无计数损失，因此每秒脉冲数即是每秒光子数[2]，其单位符号是1[3]，故衍射强度的单位是s-1。图1给出了XRD谱图坐标的规范标注。
二、来稿及文献中XRD谱图存在的问题
随机抽取笔者所在单位的图书馆内的国内外核心学术期刊，并从中国知网上下载了近期出版的涉及XRD谱图的文章近百篇，XRD谱图的横坐标标目基本都是规范标注，个别不规范，纵坐标问题比较多，主要表现为：标目中量符号使用不规范、单位标注不当、标目与标值不对应等。笔者将近年编辑部来稿中和统计的文献中存在的XRD谱图错误进行了归纳总结，主要问题如下。
1.标目中的量符号不规范。GB3100～3102―93规定科技论文中的物理量符号需用斜体字母标注，尽量避免使用中、外文的文字段（或缩写字母）代替量符号[5]。图2为XRD谱图纵坐标标目中“量符号”标注不规范的实例[6]-[9]，其中图2（a）和图2（b）存在的错误是：用英文“intensity”和英文字段“XRD INTENSITY”代替了衍射强度量符号“I”；图2（c）用中文“强度”代替了衍射强度的量符号“I”；图2（d）用缩写词“cps”取代衍射强度的符号I，而“cps”是英文字段“counts per second”的缩写，既不是量符号也不是单位。在X射线物相定性分析中，对单相样品，用于几个图叠加对比时，单位就不是很重要了，当无具体标值时纵坐标均可用相对强度Ir表示[2]。故图2（a）可以将纵坐标的英文字段删除，将Ir标注在纵坐标的箭头旁；图2（d）可直接将英文缩写词“cps”和英文字段删除，什么也不标注。
2. 标目中的使用单位不规范。图3为XRD谱图标目中单位使用不规范实例[10]- [15]。图2（b）、（c）和图3（d）中的“a. u.”是英文“arbitrary unit”的缩写，即任意单位，不论是衍射强度还是相对强度都不是任意单位，因此认为XRD谱图中单位为“a. u.”是不正确的。图2（b）和图2（c）纵坐标是有标值的，衍射强度I的单位为“s-1”，故正确写法是“I/s-1”。
图3（a）在标注单位时将“cps”视为衍射强度单位，不正确，应改为“s-1”；图3（b）衍射强度的单位用“counts”（计数）表示，也不规范，应改为“s-1”。图3（c）相对衍射强度的量纲为1，单位为1，故将“cps”视为相对衍射强度单位，不正确。此外图3（c）的横坐标标注也不规范，正确的标注应是在原来的基础上将“衍射角”文字删除即可。
3.概念不清，标注不严谨。图4中“强度”和图2（d）的“cps”既不是量符号也不是单位，属于概念不清，其标目应为“I/s-1”。图3（c）量符号用“相对强度”表示，而单位却用“cps”，量名称（符号）与单位不对应，属于概念不清。图4（b）标目用中英文同时表达，不规范，其正确的标目为“I/s-1”。
三、结语
随着各种分析、测量仪器的自动化和智能化程度的不断提高，各种测量结果可直接由分析仪器输出得到，若作者对得到的结果疏于检查、缺乏对测试仪器的基本原理及相关软件分析的深入了解，而编辑有可能因专业背景不够，且缺乏和作者的有效沟通，使得稿件中谱图坐标的标注存在不规范、不正确等问题。科技期刊的编辑要提高自主学习的积极性，扩宽专业知识，以提高科技期刊编辑出版质量。
参考文献：
[1]姜传海，杨传铮.X射线衍射技术及其应用[M].上海：华东理工大学出版社，2010.
[2]刘粤惠，刘平安.X射线衍射分析原理与（www.61k.com]应用[M].北京：化学工业出版社，2003.
[3]新闻出版总署科技发展司，新闻出版总署图书出版管理司，中国标准出版社.作者编辑常用标准及规范（第二版）[M].北京：中国标准出版社，2003：286.[4]信绍广，宋忠孝，杨玉学.偏压对Zr-Nb-N扩散阻挡层成分与结构的影响[J].稀有金属与硬质合金，2012，（6）：40-43.
[5]陈浩元，郑进保，李兴昌.科技书刊标准化18讲[M].北京：北京师范大学出版社，1998.
[6]高梦语，姜东，孙德魁，等.Ag/N-TiO2/SBA-15光催化剂的制备及其可见光催化还原CO2[J].化学学报，2014，（72）：1092-1098.
[7]MATSTUNAMI N，KAKIUCHIDA H，STATAKA M，et al. XRD Characterization of AlN Thin Films Prepared by Reactive RF-Sputter Deposition[J].Advances in Materials Physics and Chemistry，2013，（3）：101-107.
[8]刘灿，顾继友，张彦华.氧化剂次氯酸钠利用率及氧化淀粉结晶度的研究[J].中南林业科技大学学报，2012，32（4）：177-180.
[9]塔娜，史志铭，王晓欢，等.铈掺杂二氧化钛HRTEM和XRD分析[J].热加工工艺，2014，（18）：49-51.
[10]附青山，金永中，余祖孝，等.pH值对TiCN粉末表面镀Co的影响[J].表面技术，2014，（5）：91-94.
[11]辛艳青，杨田林，宋淑梅，等.基于X射线衍射物相定量分析外标法的研究[J].科技创新与应用，2013，（34）：2-3.
[12]侯伦灯，张齐生，苏团，等.竹重组材微晶结构的X射线衍射分析[J].林业科技开发，2012，（2）：19-22.
[13]许珂洲，宋胜东，张颖，等.碳热还原反应合成氮化铝粉体的研究[J].硅酸盐通报2014，（2）：342-345.
[14]杨鑫鑫，魏晓旭，王军转，等.高温氢退火还原V2O5制备二氧化钒薄膜及其性能的研究[J].物理学报，2013，（22）：227201-1-227201-5.
[15]胡晓静，赵景红，钟志光.X射线衍射分段扫描法鉴别滑石粉中微量石棉[J].冶金分析，2011，（7）：35-39.
责任编辑、校对：艾 岚
Abstract： As confused expression of coordinate headings and values of X-ray diffraction（XRD）spectrum often appear in scientific papers， according to national relevant standards and specifications， combined with the physical significance of XRD spectrum coordinates， correct and standard diagrams and XRD spectrum should be that the volume description of ordinate is diffracted intensity in XRD spectrogram， expressed as I/s-1. The quantity designation of abscissa is diffraction angle， expressed as 2θ/（°）.
Key words： science and technology journals， article of science and technology， X-ray diffraction （XRD） spectrum， diffraction intensity， diffraction angle， diagram； heading， quantity symbol

二 : x射线衍射-参考课件

三 : x射线衍射有什么作用

x射线衍射有什么作用

x射线衍射有什么作用的参考答案

X射“嫑_犇”线衍射在金属学中的应用 X射线衍射现象发现后,很快被用于研究金属和合金的晶体结构,出现了许多具有重大意义的结果.如韦斯特格伦（A.Westgren）(1922年)证明α、β和δ铁都是立方结构,β-Fe并不是一种新相;而铁中的α─→γ转变实质上是由体心立方晶体转变为面心立方晶体,从而最终否定了β-Fe硬化理论.随后,在用X射线测定众多金属和合金的晶体结构的同时,在相图测定以及在固态相变和范性形变研究等领域中均取得了丰硕的成果.如对超点阵结构的发现,推动了对合金中有序无序转变的研究,对马氏体相变晶体学的测定,确定了马氏体和奥氏体的取向关系；对铝铜合金脱溶的研究等等.目前 X射线衍射(包括散射)已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法.在金属中的主要应用有以下方面.

物相分析

物相分析 是 X射线衍射在金属中用得最多的方面,分定性分析和定量分析.前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较,确定材料中存在的物相；后者则根据衍射花样的强度,确定材料中各相的含量.在研究性能和各相含量的关系和检查材料的成分配比及随后的处理规程是否合理等方面都得到广泛应用.

精密测定点阵参数

精密测定点阵参数 常用于相图的固态溶解度曲线的测定.溶解度的变化往往引起点阵常数的变化；当达到溶解限后,溶质的继续增加引起新相的析出,不再引起点阵常数的变化.这个转折点即为溶解限.另外点阵常数的精密测定可得到单位晶胞原子数,从而确定固溶体类型；还可以计算出密度、膨胀系数等有用的物理常数.

本文标题：x射线衍射-科技论文中X射线衍射谱图的规范标注与编辑加工
本文地址： http://www.61k.com/1063773.html